Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.

Autores/as

  • Guillermo Juan Bergues Universidad Tecnológica Nacional - Facultad Regional Córdoba - Argentina
  • Clemar Schürrer Universidad Tecnológica Nacional, Centro de Investigación y Transferencia en Metrología (CEMETRO) – Argentina
  • Juan Caselles Universidad Tecnológica Nacional, Centro de Investigación y Transferencia en Metrología (CEMETRO) – Argentina
  • Nancy Brambilla Universidad Tecnológica Nacional, Centro de Investigación y Transferencia en Metrología (CEMETRO) – Argentina

DOI:

https://doi.org/10.33414/rtyc.42.1-11.2021

Palabras clave:

plantilla de calibración, microscopio, procesamiento de imágenes, Confocal

Resumen

En este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibración de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo propuesto ya funciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas plantillas y así optimizar la calibración.

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Publicado

03-09-2021

Cómo citar

Bergues, G. J., Schürrer, C., Caselles, J., & Brambilla, N. (2021). Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS. Revista Tecnología Y Ciencia, (42), 1–11. https://doi.org/10.33414/rtyc.42.1-11.2021