Propuesta de Test Funcional y Estructural para Filtros Analógicos Embebidos en Hardware Reconfigurable Basadas en Análisis de Respuesta Transitoria
DOI:
https://doi.org/10.33414/ajea.4.361.2019Palabras clave:
Método de análisis de respuesta transitoria, test de circuitos embebidos de señales mixtas, test funcional, test estructural, test de filtro analógico embebidoResumen
En este trabajo se presenta una estrategia de test basada en análisis de respuesta transitoria para filtros analógicos de capacidades conmutadas embebidos en dispositivos PSoC1 de Cypress® Semiconductor. La propuesta es de bajo costo y puede ser usada para mantenimiento en campo. La solución de test consiste en establecer bloques reconfigurables analógicos de PSoC1 como filtros pasabajos de segundo orden y evaluar su respuesta transitoria. El estímulo de entrada se genera internamente, mientras que la respuesta se procesa mediante un osciloscopio y posteriormente con una PC. Se demuestra experimentalmente que la estrategia es capaz de determinar especificaciones del filtro bajo test con bajo error y dispersión. Asimismo, es capaz de detectar en su totalidad fallas introducidas mediante reconfiguración de recursos del dispositivo. No obstante, para evaluar la capacidad de detectar fallas en componentes que no son accesibles para el usuario, se plantea un modelo de simulación de los circuitos bajo test. Los resultados preliminares señalan un buen grado de correlación entre el filtro real y el simulado, con y sin fallas.