Gard, F. S. «Desarrollo De Hardware Y Software De Un Sistema De Espectroscopia De Reflectancia Difusa (DRS) Para Medir La Temperatura Del Sustrato Semiconductor in-Situ». Revista Tecnología Y Ciencia, n.º 41, agosto de 2021, pp. 118-34, doi:10.33414/rtyc.41.118-134.2021.