Gard, F. S. (2021) «Desarrollo de Hardware y Software de un Sistema de Espectroscopia de Reflectancia Difusa (DRS) para Medir la Temperatura del Sustrato Semiconductor in-situ», Revista Tecnología y Ciencia, (41), pp. 118–134. doi: 10.33414/rtyc.41.118-134.2021.