GARD, F. S. Desenvolvimento de Hardware e Software de um sistema de espectroscopia Refletância difusa (DRS) para Medir a temperatura do substrato Semicondutor in-situ. Revista de Tecnologia e Ciência, [S. l.], n. 41, p. 118–134, 2021. DOI: 10.33414/rtyc.41.118-134.2021. Disponível em: https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/838. Acesso em: 3 jul. 2024.