GARD, F. S. Desarrollo de Hardware y Software de un Sistema de Espectroscopia de Reflectancia Difusa (DRS) para Medir la Temperatura del Sustrato Semiconductor in-situ. Revista Tecnología y Ciencia, [S. l.], n. 41, p. 118–134, 2021. DOI: 10.33414/rtyc.41.118-134.2021. Disponível em: https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/838. Acesso em: 21 nov. 2024.