Gard, F.S. 2021. Desarrollo de Hardware y Software de un Sistema de Espectroscopia de Reflectancia Difusa (DRS) para Medir la Temperatura del Sustrato Semiconductor in-situ. Revista Tecnología y Ciencia. 41 (ago. 2021), 118–134. DOI:https://doi.org/10.33414/rtyc.41.118-134.2021.