Aguirre FL, Palumbo F, Julían P. Ruptura dieléctrica en aislantes de alta constante: Desafíos de fiabilidad y oportunidades en computación neuromórfica. AJEA [Internet]. 5 de octubre de 2020 [citado 4 de diciembre de 2024];(5). Disponible en: https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/ajea/article/view/778