Aguirre, Fernando Leonel, Félix Palumbo, y Pedro Julían. «Ruptura dieléctrica En Aislantes De Alta Constante: Desafíos De Fiabilidad Y Oportunidades En computación neuromórfica». AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN), no. 5 (octubre 5, 2020). Accedido abril 23, 2024. https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/ajea/article/view/778.