Pazos, Sebastián Matías, Félix Palumbo, y Fernando Silveira. «Desafíos De Confiabilidad En Dispositivos Y Circuitos Nano-electrónicos De Radiofrecuencia». AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN), no. 5 (octubre 5, 2020). Accedido mayo 8, 2024. https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/ajea/article/view/648.