Aguirre, F. L., F. Palumbo, y P. Julían. «Ruptura dieléctrica En Aislantes De Alta Constante: Desafíos De Fiabilidad Y Oportunidades En computación neuromórfica». AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN), n.º 5, octubre de 2020, doi:10.33414/ajea.5.778.2020.