Pazos, S. M., F. Palumbo, y F. Silveira. «Desafíos De Confiabilidad En Dispositivos Y Circuitos Nano-electrónicos De Radiofrecuencia». AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN), n.º 5, octubre de 2020, doi:10.33414/ajea.5.648.2020.