Aguirre, F. L., Palumbo, F. y Julían, P. (2020) «Ruptura dieléctrica en aislantes de alta constante: Desafíos de fiabilidad y oportunidades en computación neuromórfica», AJEA (Actas de Jornadas y Eventos Académicos de UTN), (5). doi: 10.33414/ajea.5.778.2020.