Pazos, S. M., Palumbo, F. y Silveira, F. (2020) «Desafíos de confiabilidad en dispositivos y circuitos nano-electrónicos de radiofrecuencia», AJEA (Actas de Jornadas y Eventos Académicos de UTN), (5). doi: 10.33414/ajea.5.648.2020.