Aguirre, Fernando Leonel, Félix Palumbo, y Pedro Julían. 2020. «Ruptura dieléctrica En Aislantes De Alta Constante: Desafíos De Fiabilidad Y Oportunidades En computación neuromórfica». AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN), n.º 5 (octubre). https://doi.org/10.33414/ajea.5.778.2020.