Pazos, Sebastián Matías, Félix Palumbo, y Fernando Silveira. 2020. «Desafíos De Confiabilidad En Dispositivos Y Circuitos Nano-electrónicos De Radiofrecuencia». AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN), n.º 5 (octubre). https://doi.org/10.33414/ajea.5.648.2020.