AGUIRRE, F. L.; PALUMBO, F.; JULÍAN, P. Ruptura dieléctrica en aislantes de alta constante: Desafíos de fiabilidad y oportunidades en computación neuromórfica. AJEA (Actas de Jornadas y Eventos Académicos de UTN), [S. l.], n. 5, 2020. DOI: 10.33414/ajea.5.778.2020. Disponível em: https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/ajea/article/view/778. Acesso em: 4 dic. 2024.