PAZOS, S. M.; PALUMBO, F.; SILVEIRA, F. Desafíos de confiabilidad en dispositivos y circuitos nano-electrónicos de radiofrecuencia. AJEA (Actas de Jornadas y Eventos Académicos de UTN), [S. l.], n. 5, 2020. DOI: 10.33414/ajea.5.648.2020. Disponível em: https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/ajea/article/view/648. Acesso em: 4 dic. 2024.