Pazos, S. M., Palumbo, F., & Silveira, F. (2020). Desafíos de confiabilidad en dispositivos y circuitos nano-electrónicos de radiofrecuencia. AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN), (5). https://doi.org/10.33414/ajea.5.648.2020