[1]
Boyeras Baldomá, S. y Palumbo, F. 2020. Estudio de la degradación y ruptura de estructuras MOS basadas en óxidos high-k multicapas. AJEA (Actas De Jornadas Y Eventos Académicos De UTN). 5 (oct. 2020). DOI:https://doi.org/10.33414/ajea.5.650.2020.