Aguirre, F.L., Palumbo, F. y Julían, P. 2020. Ruptura dieléctrica en aislantes de alta constante: Desafíos de fiabilidad y oportunidades en computación neuromórfica. AJEA (Actas de Jornadas y Eventos Académicos de UTN). 5 (oct. 2020). DOI:https://doi.org/10.33414/ajea.5.778.2020.