Pazos, S.M., Palumbo, F. y Silveira, F. 2020. Desafíos de confiabilidad en dispositivos y circuitos nano-electrónicos de radiofrecuencia. AJEA (Actas de Jornadas y Eventos Académicos de UTN). 5 (oct. 2020). DOI:https://doi.org/10.33414/ajea.5.648.2020.